Betriebsanleitung für das Schüler-RTM

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90% fertig „Betriebsanleitung für das Schüler-RTM“ ist nach Einschätzung seiner Autoren zu 90% fertig Hinweis: Diese Anleitung ist nur für das RTM der Universität Münster erstellt worden

Was ist ein RTM (Raster-Tunnel-Mikroskop)?[Bearbeiten]

Ein Raster-Tunnel-Mikroskop wird benutzt, um elektrisch leitende Oberflächen sehr genau abzutasten. Diese Art des Mikroskops kann Oberflächen viel genauer abbilden, als optische Mikroskope, die durch die Länge der Lichtwelle an ihre physikalischen Grenzen stoßen. Ein RTM benutzt allerdings auch ein anderes Prinzip, welches nicht mit einem Optischen Mikroskop vergleichbar ist. Es tastet die Oberfläche der Probe mit einer feinen Nadel ab. Die Oberfläche des abzutastenden Objekts muss elektrisch leitfähig sein, damit die Nadel -gesteuert durch einen elektrischen Strom- den Abstand zur Probe anpasst. Die Nadel wird über die Probe geführt und mit dem Tunnelstrom ständig in einem gleichmäßigen Abstand von der Oberfläche gehalten. Das Bild der Oberfläche kann dann Dreidimensional an einem Computer angezeigt werden. Nicht leitende Oberflächen von zu untersuchenden Proben können vorher in einer Vakuumkammer mit Goldatomen bedampft werden. Dazu muss die Probe allerdings vollkommen frei von Wasser sein. Die Untersuchung mit dem RTM eignet sich deshalb hauptsächlich nur für Proben aus Metall oder Kohle.

Grundaufbau der Mechanik[Bearbeiten]

Schematische Darstellung des RTM

Das Mikroskop besteht aus folgenden Bestandteilen: Grundplatte, Trägerplatte, Verschiebung für den Scankopf, Scankopf, Probe und der Dämpfung (siehe Schema).

Dämpfung[Bearbeiten]

Da sich die Spitze des Mikroskops nur wenige Angström von der Probe entfernt befindet, wirken sich Schwingungen im Bereich von 1 - 100 Hz besonders stark aus. In diesem Bereich liegt Trittschall oder die Schwingung von Gebäuden. Daher ist eine gute Dämpfung gegen Erschütterungen und Schall erforderlich. Die Empfindlichkeit der RTM’s müssen bereits bei der Wahl des Standortes beachtet werden. So kann man Gebäudeschwingungen vermeiden, wenn sich das Mikroskop in einem Keller befindet. Dementsprechend ist ein Aufbau in hohen Stockwerken ungünstig und erfordert eine aufwendigere Schwingungsdämpfung. Um Trittschall und Gebäudeschwingungen aufzunehmen eignet sich am besten ein Schubkarrenreifen. Auf ihn kann man direkt das Rastertunnelmikroskop stellen. Um eine bessere Dämpfung im Bereich der hohen Schwingungen zu erreichen ist es jedoch besser, wenn man auf den Reifen weitere Metallplatten legt. Dabei sollten die Metallplatten unterschiedliche Größen besitzen, damit ein möglichst großer Frequenzbereich absorbiert wird. Zwischen die Metallplatten werden Vitonringe getan. Diese vermeiden zum einen, dass die Metallplatten verrutschen und zum anderen werden hohe Frequenzen aufgenommen. Zur besseren Dämpfung gegen Schall der aus der umgebenden Luft auf das Mikroskop einwirken kann sollte ein geerdeter Metallkasten um das Mikroskop gestellt werden der in der Innenseite mit Noppenschaum bestückt ist. Das geerdete Metall hat die Eigenschaft, dass es Radiofrequenzen und Störungen über das Stromnetz filtert. Schallwellen werden durch den Noppenschaum gestreut und somit abgeschwächt.

Zur Vorbereitung eines möglichst störungsfreien Betriebs[Bearbeiten]

Das RTM (RasterTunnelMikroskop) sollte in einem Kellerraum oder im Erdgeschoss aufgebaut werden, um Vibrationen durch Gebäudeschwankungen zu minimieren. Zum Aufbau und der Verschaltung siehe Blockschaltbilder. Ideal ist ein Aufbau auf dem Fußboden, da Tische meist wie ein Verstärker für Vibrationen wirken. Ein massiver Tisch kann auch als Untersatz verwendet werden. Alle verwendeten Netzteile, Rechner etc. sollten über eine Steckerleiste an die selbe Steckdose angeschlossen werden, um Netzbrummen zu minimieren. Für die filigranen Arbeiten an Messspitze und Annäherung ist ausreichende Beleuchtung wichtig.

Präparieren und Aufspannen der Probe[Bearbeiten]

Nachdem das RTM auf die Schwingungsdämpfung gesetzt wurde und vollständig an die Elektronik angeschlossen ist, wird zunächst eine Probe vorbereitet. Als Standardproben eignet sich HOPG (hochorientiertes pyrolitisches Graphit), goldbedampfte Glasplatten, Platinkristalle etc. Die zu vermessende Probe sollte sehr glatt sein. Mit dem Auge sollten keine Unebenheiten mehr auszumachen sein.

Präparation von Proben:

Die Proben dürfen nicht verschmutzt oder staubig sein. Sonst ist störungsfreier Messbetrieb meist nicht möglich.

Präparation einer HOPG-Probe: Auf den Graphitkristall wird ein Streifen Tesafilm geklebt, gut angedrückt und vorsichtig wieder abgezogen. Dabei bleibt eine Schicht HOPG am Klebstreifen hängen. Die so entfernte Schicht ist sehr dünn und dieser Vorgang lässt sich fast beliebig oft wiederholen, ohne dass der Kristall spürbar kleiner wird. Auf dem Kristall selbst bleibt eine meist atomar glatte Schicht zurück, die sich gut vermessen lässt. Gelegentlich bleiben beim Abziehen des Klebstreifens kleine „Flocken“ auf der Oberfläche zurück. In diesem Fall muss die Prozedur wiederholt werden, bis eine große Fläche auf dem Kristall „Spiegelglatt“ ist. Der Kristall wird nun mit der präparierten Seite nach oben auf den Probenhalter gespannt.

Die fertig präparierte Probe wird unterhalb des Scanners auf der Grundplatte befestigt. Wir empfehlen die Verwendung des in unseren Bauanleitungen beschriebenen Probentisches.

Befestigen der Probe ohne Probentisch[Bearbeiten]

Auf die Grundplatte unterhalb des Scanners wird ein Stück Klebstreifen befestigt, auf dem die Probe von der Trägerplatte elektrisch isoliert liegen kann. Auf der Rückseite des Klebstreifens wird die Probe befestigt (Mit Klebeband oder Nagellack). Anschließend wird der am Ende abisolierte Biasdraht mit Klebeband so auf der Grundplatte festgeklebt, das sein blankes Ende auf der Probe aufliegt. Ein Tropfen Leitsilber wird auf das Drahtende gegeben und stellt dadurch einen optimalen Kontakt mit der Probe her. Dabei wird die Probe leider verschmutzt. Sie ist dann aber bereit für eine Messung. Das Anbringen der Probe auf dem Probentisch verhindert eine Verschmutzung.

Befestigen der Probe mit Probentisch[Bearbeiten]

Die Probe wird auf den Probentisch gelegt. Mit einer Pinzette werden die Unterlegscheiben der Befestigungsschrauben angehoben und die Probe unter diese geschoben. Nun lässt sich die Probe durch Anziehen der Schrauben auf dem Tisch festspannen und ohne Leitsilber kontaktieren. Die Probe ist bereit für eine Messung.

Messspitze präparieren[Bearbeiten]

Hauptbestandteil des RTMs ist die Messspitze. Da sie die Oberflächenstruktur "abtastet" muss sie dementsprechend fein sein. Optimal sind dabei monoatomare Spitzen. Das bedeutet, das die Spitze nur aus einem Atom besteht. Je nachdem, welches Spitzenmaterial verwendet wird, gibt es unterschiedliche Methoden, Messspitzen herzustellen.

Wolfram[Bearbeiten]

Messspitzen aus Wolfram können auf zwei Wegen hergestellt werden. Zum einen durch Ätzen, was hier nicht behandelt wird, und zum anderen durch einfaches abknipsen. Beim Abknipsen macht man sich die Materialeigenschaften von Wolfram zunutze. Wolfram ist sehr Spröde und splittert daher in viele Fasern auf, wenn man es in einem sehr spitzen Winkel mit einem scharfen (!) Seitenschneider abknipst. Die dabei entstehenden Spitzen sind ausreichend, um Strukturen im Nanometer-Bereich (nm) sichtbar zu machen. Wolfram hat einen weiteren Vorteil. Da es besonders Hart ist, kann man es mit dem RTM-Scanner in weichere Metalle vorsichtig hineinstoßen. Beim Herausziehen bleiben dann Atome des weicheren Metalls (bspw. Gold) an der Wolframspitze hängen. Nachteil bei Wolframspitzen: Wolfram oxidiert leicht. Daher ist die "Lebensdauer" einer Wolframspitze sehr begrenzt. Der Vorteil von Wolfram ist, das es sehr billig zu beschaffen ist, da es aus defekten Glühlampen genommen werden kann.

Platin-Iridium[Bearbeiten]

Pt/Ir-Spitzen werden gerissen. Dazu nimmt man sich einen scharfen Seitenschneider und macht eine kleine Kerbe in den Draht. Sie dient als Sollbruchstelle. Nimmt man sich nun zwei Zangen, kann man den Draht auseinanderziehen und erhält eine sehr gute Messspitze. Eine andere Methode Pt/Ir-Spitzen zu erstellen ist es, den Draht fest einzuspannen und mit einem Seitenschneider in einem Winkel von etwa 30° zu fassen und dann abzureißen.

Messspitzen einsetzen

Die präparierten Messspitzen werden mit der "stumpfen" Seite voran (mit Hilfe einer feinen Pinzette) in das Dreibein eingebaut. Falls ein kleines Platinenstück zur Isolierung verwendet wird, so ist die Messspitze daran zu befestigen (Sekundenkleber) und das Platinenstück in das Dreibein einzusetzen. Tunnelverstärker mit Messspitze verbinden (zur besseren Kontaktierung zusätzlich Leitsilber verwenden).

Grobannäherung[Bearbeiten]

Mit der Feinschraube A (siehe Bild) wird nun die Trägerplatte so weit wie möglich herabgesenkt, sodass sie die Grundplatte bei der Feinschraube A fast berührt. So hat die Feinannäherung später den größtmöglichen Hub. Die Messspitze wird mit den Feinschrauben links und rechts des Scanners grob an die Probe angenähert. In der Probe ist meist ein Spiegelbild der Messspitze sichtbar. Die „Grobannäherung“ geschieht so lange, bis sich Messspitze und Spiegelbild fast berühren. Wird die Messspitze durch die Grobannäherung nicht weit genug an die Probe herangefahren, reicht der Hub der A-Feinschraube nicht aus, um einen „Tunnelstromkontakt“ herzustellen.

Einschalten der Elektronik und des Messrechners[Bearbeiten]

Der Messrechner wird eingeschaltet und die RTM-Betriebssoftware gestartet. Alle benötigten Netzteile (Netzteil des Reglers, ggf. Netzteil des Schrittmotors für die automatische Annäherung). Bei eingeschalteter Elektronik sollte der Eingang des Vorverstärkers niemals berührt werden. Der Vorverstärker kann sonst durch die Entladung elektrostatischer Potentiale zerstört werden. Das RTM ist nun betriebsbereit. Alle nicht benötigten elektrischen Geräte, insbesondere Lampen (verursachen starke Störungen) sollten ausgeschaltet und vom Stromnetz getrennt werden. Auf dem Oszillographen, der den verstärkten Tunnelstrom anzeigt, kann die Störung durch Netzbrumm in vielen Fällen abgelesen werden. Die Messspitze wirkt wie eine Antenne und leitet elektromagnetische Störstrahlung an den Vorverstärker weiter. Daher ist es wichtig, alle nicht benötigten Geräte auszuschalten und vom Netz zu trennen. Der Effekt, der durch Netzbrumm auftritt lässt sich folgendermaßen demonstrieren (auch als Funktionstest für den Vorverstärker geeignet): Stellt man eine eingeschaltete Energiesparlampe neben den Vorverstärker, kann auf dem Oszillographen, der den verstärkten Tunnelstrom anzeigt, deutlich eine sinusförmige Schwingung ausgemacht werden. Die Frequenz der Schwingung liegt bei 50 Hz (diese Störung wird als Netzbrumm bezeichnet). 50 Hz entsprechen der Frequenz des Netz - Wechselstroms. Manchmal wird der Netzbrumm auch bei 100 Hz beobachtet, da es eine Oberwelle zur Netzfrequenz von 50 Hz darstellt.

Feinannäherung[Bearbeiten]

Zur Bestimmung der Position der Messspitze dienen die beiden LEDs auf der Reglerplatine. Ist die Messspitze zu weit weg von der Probe, leuchtet eine, ist sie zu nahe dran, leuchtet die andere. Leuchtet keine der LEDs (bei eingeschalteter Elektronik), dann ist die Messspitze in optimalem Abstand zur Probe. Alternativ haben wir diese Funktion in unsere Software übertragen, wo ein blauer Balken die Position der Messspitze anzeigt. Ist der Balken am rechten Anschlag ("voll"), ist der Piezo ganz ausgedehnt, die Probe daher weit weg von der Messspitze. Ist der Balken „leer“, daher am linken Anschlag, so ist die Messspitze viel zu Nahe an der Probe und läuft Gefahr, in diese hinein zu stoßen. Ein idealer Zustand ist erreicht, wenn der Balken „halb“ voll ist. So kann der Z-Piezo seinen maximalen Hub ausnutzen.

Feinannäherung mit Stepper[Bearbeiten]

Sofern an die Feinschraube A ein Schrittmotor angebaut wurde, kann in der Software ein automatischer Feinannäherungsvorgang gestartet werden. Dazu wird in der Software das Menü für den Stepper aufgerufen und der Annäherungsvorgang gestartet. Der Stepper stoppt, sofern diese Funktion eingeschaltet wurde, automatisch, sobald ein Tunnelstrom zwischen Messspitze und Probe fließt. Der Stepper nähert Probe und Spitze damit automatisch an, ohne sie zu kontaktieren. Nachträglich kann über die „Pfeile“ in der Software der Abstand der Messspitze zur Probe verändert werden. Der Abstand sollte so eingestellt werden, dass der Z-Piezo seinen maximalen Hub nach oben und unten ausnutzen kann (Beide LEDs aus, blauer Balken „halb voll“). Beim Einstellen der Höhe der Messspitze über der Probe mit dem Stepper/ mit der Hand ist Vorsicht geboten, um nicht durch "zu grobe" Reaktionen die Messspitze in die Probe zu rammen und so zu zerstören. Der Schrittmotor und seine Spannungsquelle werden nach erfolgreicher Annäherung ausgeschaltet, da durch sie elektromagnetische Störungen auf dem Tunnelstromsignal verursacht werden können.

Beim Kontaktieren der Messspitze mit der Probe: Messspitze erneuern und Prozedur wiederholen. Den Kontakt zwischen Messspitze und Vorverstärker nie lange aufrecht erhalten, da der Vorverstärker sonst beschädigt werden kann.

Ohne Stepper[Bearbeiten]

Die Annäherung ohne Stepper erfordert viel Konzentration und wird von uns nicht empfohlen. Die A-Feinschraube wird von Hand gedreht, sodass sich die Messspitze auf die Probe zu bewegt. Die Feinschraube sollte nur sehr langsam und mit viel Gefühl bewegt werden. Sobald ein Flackern der leuchtenden LED bemerkt wird, befindet sich die Messspitze nahe der Probe. Nun wird die Messspitze solange vorsichtig weiter an die Probe angenähert, bis die LED erlischt und keine der beiden LED mehr leuchtet. Alternativ kann auch der blaue Balken in der Software betrachtet werden. Ist er in Mittelstellung, so ist die Messspitze in optimaler Position. Ist er fast „leer“, daher am linken Rand, so ist die Messspitze zu nahe an der Probe. Ist der blaue Balken am rechten Rand, so ist die Messspitze zu weit weg von der Probe. Ist die Annäherung abgeschlossen, sollte die Hand äußerst vorsichtig vom Messkopf entfernt werden, um nicht durch einen Stoß die Messspitze in die Probe zu rammen.

Beim Kontaktieren der Messspitze mit der Probe: Messspitze erneuern und Prozedur wiederholen. Den Kontakt zwischen Messspitze und Vorverstärker nie lange aufrecht erhalten, da der Vorverstärker sonst beschädigt werden kann.

Reaktionen nach dem Annähern und bei Störungen[Bearbeiten]

Je nach Beschaffenheit der Messspitze kann es nach dem Annähern zu unerwarteten Reaktionen kommen (unabhängig von der Annäherungsmethode).

  • Bewegt sich der blaue Balken in der Software (und damit der Z-Piezo) hin und her, obwohl der Motor/die Feinschraube A ruhig steht, so ist eine Mögliche Ursache:
  1. Äußere Störungen verursachen ein Vibrieren der Messspitze über der Probe. Der Aufbau ist nicht genügend gegen mechanische Schwingungen abgeschirmt.
  2. Die Messspitze ist beschädigt, stumpf oder verschmutzt. Messspitze austauschen.
  3. Die Probe ist verschmutzt. Gegebenenfalls reinigen.
  • Bewegt sich der blaue Balken kontinuierlich in eine Richtung, so kann dies von einer Driftbewegung der Messspitze herrühren. Besonders oft konnten wir dieses Phänomen beobachten, wenn das RTM größeren Temperaturschwankungen ausgesetzt war (bspw.: Einschalten der Heizung am Morgen, nachdem es die Nacht über im Labor kalt war). Wenn sich der Aufbau erwärmt, dehnt er sich aus. Dies kann zu minimalen Verschiebungen zwischen Probe und Messspitze führen (mechanische Driftbewegung). Die Driftbewegung lässt meist nach ca. 10 – 30 Minuten so weit nach, dass sie kaum noch messbar ist. So lange muss sie durch Nachregeln der Messspitze mit Hilfe des Steppers/von Hand ausgeglichen werden. Um Drift zu vermeiden sollte das RTM bei gleichbleibender Temperatur gelagert und betrieben werden. Zudem sollte der Kontaktdraht von der Messspitze zum Vorverstärker keine Zugkraft auf die Messspitze ausüben. Alle mechanischen Bauteile und Schrauben sollten ausreichend befestigt sein.

Weitere Störungen:

  • An den LED bzw. in der Software wird kein Tunnelkontakt angezeigt, obwohl die Messspitze schon soweit angenähert wurde, dass sie deutlich sichtbar mit der Probe kontaktiert ist.
  1. Die Probe ist nicht mit dem Bias-Draht verbunden. Kontaktierung überprüfen. (Mit Multimeter den Kontakt testen).
  2. Der Draht von der Messspitze zum Verstärker ist nicht ausreichend mit der Messspitze verbunden. Bei !ausgeschalteter! Elektronik überprüfen.
  3. Probe oder Messspitze sind verschmutzt. Gegebenenfalls reinigen und austauschen.
  4. Fehler im Aufbau: Steckverbindungen, Netzteile und Elektronik überprüfen.

Einstellen von Software und Regler[Bearbeiten]

Ist die Annäherung vollständig abgeschlossen, kann der Scanbetrieb beginnen. Dazu wird zunächst vorsichtig die Abschirmung über den Messkopf gestülpt (Ohne ihn zu berühren!!!). Die Abschirmung wird geerdet. Wird die Annäherung mit dem Stepper vollzogen, kann die Abschirmung auch schon vorher über den Messkopf gestülpt werden, um Stöße gegen die angenäherte Messspitze zu vermeiden. In der Software kann nun eine Messung gestartet werden. Dazu sind folgende Parameter einzustellen:

In der Software[Bearbeiten]

  • Titel: Name der Probe und Messspitze sollten eingegeben werden.
  • Scanbereich: Zu Beginn sollte mit dem maximalen Scanbereich gemessen werden. So erhält man einen Überblick über die Strukturen, die sich auf der vermessbaren Fläche befinden. Danach können die sichtbaren Strukturen vergrößert werden.
  • Scangeschwindigkeit: Bei der Scangeschwindigkeit gilt folgendes: Je langsamer, desto schärfer werden meist die sichtbaren Strukturen. Allerdings unterliegt die Messspitze meist einem minimalen Drift. Scant man zu langsam, so werden Strukturen durch den Drift verzerrt. Eine gerade Stufe erscheint dann als „runde Terrasse“. Daher sollte bei der Scangeschwindigkeit ein Mittelwert gefunden werden, der von der Beschaffenheit der Probe abhängt. Meist eignen sich Scangeschwindigkeiten von 1 Hz bis zu 2 Hz. Sehr raue Proben sollten nicht zu schnell vermessen werden, da sonst der Regler nicht schnell genug nachregeln kann und die Strukturen verschwimmen.

Am Regler[Bearbeiten]

Auf der Steuerbox sind 3 Potentiometer befestigt: Integral Gain, Setpoint und Bias.

Diese Parameter dienen zum Anpassen des Reglers an die Probe. Die einzelnen Parameter ändern dabei folgendes:


Integral Gain[Bearbeiten]

Bestimmt die Geschwindigkeit der Regelung. Ein hohe Wert bedeutet, dass der Regler sehr schnell auf Änderungen des Messspitze-Probe-Abstands reagiert. Bei einem niedrigen Wert reagiert er entsprechend langsamer.

Setpoint[Bearbeiten]

Bestimmt den Sollwert des Tunnelstroms. Dieser Sollwert ist der Wert, auf dem der Regler die Messspitze zu halten versucht. Ändert sich der Tunnelstrom zwischen Messspitze und Probe, so ändert der Regler den Messspitze-Probe-Abstand, bis der Sollwert wieder erreicht ist. Bei einem großen Wert befindet sich der Sollwert und damit die Messspitze näher an der Probe, bei kleinem Set ist sie weiter weg. Bei großen Werten für Set wird das Tunnelstromsignal zunehmend verrauscht.

Bias[Bearbeiten]

Zwischen Probe und Messspitze liegt eine Spannung an. Bias bestimmt die Höhe der Spannung.

Die Parameter sollten wie folgt gewählt werden:

Ein hohes Gain ist wünschenswert, damit der Regler mit der Messspitze dem Oberflächenprofil der Probe möglichst genau folgt. Bei einem hohen Gain tritt jedoch eine Schwingung im Regler selbst auf (erkennbar auf dem Oszillographen, der den verstärkten Tunnelstrom anzeigt: es ist eine sinusförmige Schwingung erkennbar, die bei ausreichender Abschirmung nicht von Störstrahlung herrühren kann. Ändert man den Wert für Gain, so lässt sich die Frequenz der Schwingung beeinflussen). Diese Schwingung darf während eines Messvorgangs nicht auftreten. Daher ist Gain so einzustellen, das gerade noch keine Schwingung im Vorverstärker auftritt (Gain kleiner wählen, bis die Schwingung aufhört). Ebenso verhält es sich mit Set. Je höher Set gewählt wird, desto leichter fängt der Regler an zu Schwingen. Wie groß Set gewählt werden sollte, ist von Probe zu Probe unterschiedlich. Auf atomar „rauen“ Proben empfiehlt sich ein kleiner Set (< 1 nA) , auf „glatten“ Proben und für die Auflösung einzelner Atome ein großer Set (1- 2 nA). Die Größe von Set lässt sich am Oszillographen ablesen, der den Tunnelstrom anzeigt. Set bewirkt, dass der Tunnelstrom von der GND-Linie verschoben wird. Über den Verstärkungsfaktor des Vorverstärkers lässt sich dann der fließende Tunnelstrom berechnen. Bei einer Verstärkung von 10^9 und einem Set von 1 V fließt ein Tunnelstrom von 1 nA. Set = 0 bedeutet, dass der Regler den Tunnelstrom Null fordert und die Messspitze von der Probe wegzieht. Bias: Die Einstellung von Bias liegt in der Regel bei 100-200 mV. Diese Werte sind für viele Proben verwendbar.

Die Einstellung der Parameter erfordert Erfahrung und ist Unterschiedlich für verschiedene Proben und Messspitzen. Von der Einstellung der Parameter hängt das erhaltene Ergebnis im Wesentlichen ab. Um ein optimales Ergebnis zu erhalten, sollten die Parameter während des Scannens testweise verändert und gleichzeitig die Auswirkungen auf den Messungen beobachtet werden. Sind die Einstellungen zufriedenstellend, können Messungen aufgenommen werden (Messparameter bei Messungen, die ausgewertet werden sollen nicht verändern, da während der Änderung der Parameter kurzfristig Störungen auf dem Messsignal auftreten können).

Scannen[Bearbeiten]

Nun kann der Scan beginnen. Viel Erfolg!

Tipps während des Messens[Bearbeiten]

Manchmal lohnt es sich, trotz schlechter Spitze weiter zu scannen. Bei maximalem Scanbereich, hoher Scanfrequenz und hohem Bias (5 V oder mehr) kann man die Spitze manchmal „scharf“ scannen. Die Spitze nimmt dann Partikel von der Probenoberfläche auf, die als neue scharfe Messspitze dienen können. Eine weitere Möglichkeit, Messspitzen zu „schärfen“ ist folgende Prozedur (Empfehlenswert nur bei Wolframspitze über Edelmetallproben): Die Messspitze wird vorsichtig in die Probe hinein gestochen (mit Hilfe des Scanners, nicht mit Feinschraube oder von Hand!). Vorverstärker dazu eventuell ausschalten, um ihn zu schonen. Im Idealfall bleiben einige Atome des Edelmetalls an der Messspitze hängen und ergeben eine neue Messspitze.

Software[Bearbeiten]

Downloads[Bearbeiten]

Weblinks[Bearbeiten]